測(cè)量原理與方法

采用接觸式或非接觸式的方法。接觸式方法包括使用表面粗糙度儀，該儀器通過(guò)內(nèi)置的銳利觸針在被測(cè)表面上滑行，感受表面的粗糙度，并將位移信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)進(jìn)行處理，最終得到粗糙度數(shù)值。非接觸式方法則利用光學(xué)原理，如激光散射法、白光干涉法等，通過(guò)測(cè)量光線在鍍層表面的反射或散射特性來(lái)評(píng)估粗糙度。

測(cè)量參數(shù)

Sa（Arithmetic Mean Height）：算術(shù)平均高度，是表面粗糙度參數(shù)中的一種，用來(lái)表示一個(gè)表面上各點(diǎn)高度偏差的算術(shù)平均值。Sa值越小，表示表面越平滑。

Sq（Root Mean Square）：均方根高度，是另一種常用的表面粗糙度參數(shù)，表示表面各點(diǎn)高度偏差的均方根值。Sq提供了表面粗糙度的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差度量，Sq值越小，表明表面粗糙度的波動(dòng)越小。

Sz（Maximum Height）：最大高度，指的是在表面粗糙度測(cè)量中，從最高點(diǎn)到最低點(diǎn)的最大距離。Sz是描述表面粗糙度的一個(gè)極端值，反映了表面的最高峰谷差異。